Abschätzung der Messunsicherheit komplexer Messsysteme mittels statistischer Simulation durch den Hersteller

Schmitt, Robert H.; Fritz, Peter; Jatzkowski, Philipp; Lose, Juliane; Koerfer, Friedel

Düsseldorf : VDI Wissensforum (2008)
Contribution to a book, Contribution to a conference proceedings

In: Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen : 4. Fachtagung Messunsicherheit ; 12. und 13. November 2008 in Erfurt ; [Tagungsbericht] / VDI/VDE-Gesellschaft Mess- und Automatisierungstechnik

Identifier